Мелкие дефекты теряются, а метрика молчит: систематическое сравнение Mask R-CNN и YOLO на 1812 производственных снимках
Привет, Хабр! Меня зовут Максим, я студент РТУ МИРЭА, и хочу поделиться темой, которая меня давно зацепила. Рано или поздно на это натыкается каждый, кто делает визуальный контроль на своих данных. Мо…
Хабр
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