Мелкие дефекты теряются, а метрика молчит: систематическое сравнение Mask R-CNN и YOLO на 1812 производственных снимках
Привет, Хабр! Меня зовут Максим, я студент РТУ МИРЭА, и хочу поделиться темой, которая меня давно зацепила. Рано или поздно на это натыкается каждый, кто делает визуальный контроль на своих данных. Мо…
Хабр
Full text, translation and AI summary — after signing in
- The full article in your language
- AI summary and translation from the original
- The same account works in the Suviy app
Related coverage
Comments
Sign in to join the conversation. Sign in
No comments yet.